분류: |
융합 회로 (IC)
기억력
기억력 |
제품 상태: |
액티브 |
장착형: |
표면 마운트 |
패키지: |
테이프 & 롤 (TR)
절단 테이프 (CT)
디기 릴® |
시리즈: |
- |
프로그램 가능한 디기키: |
확인되지 않았습니다. |
기억기접합: |
대비 |
페이지, 순환 주기 - 단어 씁니다: |
55 나노 초 |
공급자의 장치 패키지: |
28-TSOP I |
기억 영역형: |
휘발성 물질 |
Mfr: |
레네사스 일렉트로닉스 아메리카 |
메모리 용량: |
256Kbit |
전압 - 공급: |
2.7V ~ 3.6V |
엑세스 시간: |
55 나노 초 |
패키지 / 케이스: |
28-TSSOP (0.465", 11.80mm 너비) |
메모리구성: |
32K X 8 |
작동 온도: |
-40°C ~ 85°C (TA) |
기술: |
SRAM |
기본 제품 번호: |
R1LV5256 |
메모리 포맷: |
SRAM |
분류: |
융합 회로 (IC)
기억력
기억력 |
제품 상태: |
액티브 |
장착형: |
표면 마운트 |
패키지: |
테이프 & 롤 (TR)
절단 테이프 (CT)
디기 릴® |
시리즈: |
- |
프로그램 가능한 디기키: |
확인되지 않았습니다. |
기억기접합: |
대비 |
페이지, 순환 주기 - 단어 씁니다: |
55 나노 초 |
공급자의 장치 패키지: |
28-TSOP I |
기억 영역형: |
휘발성 물질 |
Mfr: |
레네사스 일렉트로닉스 아메리카 |
메모리 용량: |
256Kbit |
전압 - 공급: |
2.7V ~ 3.6V |
엑세스 시간: |
55 나노 초 |
패키지 / 케이스: |
28-TSSOP (0.465", 11.80mm 너비) |
메모리구성: |
32K X 8 |
작동 온도: |
-40°C ~ 85°C (TA) |
기술: |
SRAM |
기본 제품 번호: |
R1LV5256 |
메모리 포맷: |
SRAM |